线差法是一种用于测量光学元件表面形貌的方法。

它通过测量光束经过元件前后的位置差来计算表面的高度变化。具体步骤如下：首先，将光束通过待测元件，然后在元件前后分别放置两个探测器。接下来，通过调整探测器的位置，使得两个探测器接收到的光强相等。然后，测量两个探测器的位置差，这个差值即为线差。最后，根据线差和光束的入射角度，可以计算出元件表面的高度变化。例如，如果线差为1mm，入射角度为45度，那么可以计算出表面高度变化为1mm/cos(45°)≈1.41mm。